特點(diǎn)：
1、雙CPU處理器技術(shù)，擁有獨(dú)立的CPU系統(tǒng)，不受計(jì)算機(jī)Windows分時(shí)特性的影響；
2、標(biāo)準(zhǔn)的USB3.0通訊接口，與計(jì)算機(jī)通訊安全、快速、便捷，支持熱插拔；
3、測(cè)試儀軟、硬件技術(shù)與計(jì)算機(jī)技術(shù)同步發(fā)展延伸；
4、雙探棒/雙板直接對(duì)比測(cè)試，適用于相同電路板診斷測(cè)試；
產(chǎn)品技術(shù)：
1、后驅(qū)動(dòng)（Backdoor）技術(shù)：引進(jìn)美國(guó)后驅(qū)動(dòng)隔離技術(shù)，用來(lái)實(shí)現(xiàn)數(shù)字器件之間在線（In-circuit）的隔離；
2、自適應(yīng)測(cè)試技術(shù)：自動(dòng)識(shí)別被測(cè)試電路的自身連接情況并自動(dòng)修改相應(yīng)的測(cè)試代碼，確立測(cè)試條件，保證測(cè)試的準(zhǔn)確性；
3、數(shù)字器件的閾值電平可調(diào)：在工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)值下可以通過(guò)測(cè)試，逐步提高門(mén)檻到極限值，可發(fā)現(xiàn)器件參數(shù)型故障（軟故障）；
4、ASA（Analog Signature Analysis）模擬特征分析技術(shù)：引入ASA技術(shù)用來(lái)解決端口模擬特征曲線故障診斷分析測(cè)試；
5、三端器件（三極管、穩(wěn)壓管、可控硅、場(chǎng)效應(yīng)管等）的測(cè)試：引入八種觸發(fā)脈沖與掃描信號(hào)同步測(cè)試三端器件；
6、電容C、電阻R、電感L定性定量的測(cè)試：在一定的掃描電壓、電流、頻率下可測(cè)試電容量（阻抗、電感量）及漏電阻值；
7、對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)圖形化顯示、開(kāi)啟計(jì)算機(jī)聲音提示功能：當(dāng)測(cè)試在允許的誤差范圍內(nèi)，系統(tǒng)將聲音提示以降低工作強(qiáng)度；
8、自動(dòng)識(shí)別靈敏度調(diào)整（自動(dòng)選檔功能）：自動(dòng)識(shí)別調(diào)整測(cè)試輸入阻抗，匹配最佳的測(cè)試參數(shù)，以降低操作難度。
參數(shù)指標(biāo)：聰能電路板故障在線檢測(cè)儀 CNCT610，
1、數(shù)字通道：80+8路（其中8路數(shù)字通道是總線隔離通道，是用來(lái)隔離數(shù)字電路里總線競(jìng)爭(zhēng)情況的專用通道）；
2、模擬通道：80路（80路模擬單通道屬性，可支持雙探棒直接對(duì)比測(cè)試，網(wǎng)絡(luò)提取可同時(shí)提取2個(gè)20腳的器件）；
3、其它通道：2路探棒掃描通道、2路脈沖觸發(fā)通道（用來(lái)測(cè)試分立元件、端口、結(jié)點(diǎn)、集成塊、三端、兩端器件等）；
4、測(cè)試范圍：TTL、COMS、DRIVER、SIEMENS、RUSSIA常用5V邏輯器件、存儲(chǔ)器EPROM、RAM、LSI（測(cè)試器件功能故障）；
任何的電路結(jié)點(diǎn)、端口、金手指；任何功能已知未知LSI、貼片SOIC、方形PLCC器件的管腳（測(cè)試器件端口故障）；
5、數(shù)字信號(hào)：
驅(qū)動(dòng)電平幅度：5V系列邏輯電平（高電平>3.5V、低電平< 0.8V ）；
后驅(qū)動(dòng)電流>200mA；
測(cè)試速度：分1Ktv/S、5Ktv/S、20Ktv/S、45Ktv/S四檔可選；
在線環(huán)境識(shí)別11種狀態(tài)；
閾值電平：TTL（緊、松），COMS（緊、松）、自定義閾值電平可選可調(diào)；
加電延遲時(shí)間7檔可選；
手動(dòng)加電/程控電源可選；
程控外供輸出電源：5V/4A；
6、模擬信號(hào)：
波形：正弦波/三角波/鋸齒波；
波形失真度：<2%；
掃描電壓：±1V～±28V內(nèi) 以0.5V 的增量可調(diào)；
頻率：1Hz～16KHz內(nèi)，30檔可選；
輸出阻抗：100Ω/1KΩ/10KΩ/100KΩ四檔可選；
最大電流：150mA；
觸發(fā)脈沖：8種觸發(fā)方式（6種與掃描信號(hào)同步）；
脈沖幅度：±1V～±28V內(nèi) 以0.5V 的增量可調(diào)。
公安全國(guó)聯(lián)網(wǎng)備案編號(hào) 備案編號(hào):31010602004804